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仪器设备名称:
半导体测试分析仪
图片:
仪器型号:
4200A-SCS
仪器厂商(国别):
泰克科技(中国)有限公司
仪器原值:
57.348万元
购置日期:
2017.9
仪器主要附件:
IV测量模块三个
C-V测量模块一个
脉冲式I-V测量模块一个
远程前端放大器模块两个
机组所在部门
联系电话:
前沿交叉科学研究院
0531-82767046
仪器现状:
正常
开放机时安排:
提前预约
主要技术指标:
IV测量模块三个。指标如下:
第一个SMU模块(带前置放大器)的电流测量范围为0.01fA-100mA,另外两个SMU的电流测量范围为50fA-100mA;所有模块电压源必须同时达到最大210 V,电压源设定最小分辨率为≤5µV,电压测量范围为0.2μV-200V;配备一个前置放大器,电流测量分辨率为0.01 fA,电流源设定最小分辨率≤1.5 fA。
C-V测量模块一个。指标如下:
在1KHz-10MHz变频;偏置电压±30V;可以扩展到±210 V。
脉冲式I-V测量模块一个。指标如下:
脉冲发生器频率范围1 Hz-50 MHz;系统最小脉冲宽度:≤10 ns;最大脉冲电压±40V (80 Vp-p);脉冲I-V模块电流测量量程包括:800 mA,200 mA,10 mA,1 mA,100 μA,10 μA,1 μA,100 nA;远程前端放大器模块两个。指标如下:
在I-V测量,C-V测量,和超快脉冲I-V测量之间无需换线实现自动切换。配备仪器链接所需要的全部线缆和软件支持。
应用范围/服务内容:
半导体器件的加工与性能测试方向,半导体性能的测量
服务技术领域:
纳米材料,微纳器件 FET器件的测试
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