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测试服务项目

作者: UJN_IAIR   信息来源:前沿交叉科学研究院    发布时间: 2019-12-31

 

前沿交叉科学研究院测试项目与收费标准

分类

测试场所

联系人

测试项目

校内

校外

备注

扫描电子显微镜

逸夫楼A108

赵莉莉15098925565

SEM

EDS

200/小时(喷金: 60/)

400/小时(喷金: 120/)

每小时限做4个样品,每多一个样品加收50(校内)/100(校外)

原子力显微镜

逸夫楼A112

孙德辉

15665891016

表面形貌、铁电材料

300/小时

600/小时

探针自费

拉曼光谱仪

逸夫楼B215

于欣

82767047

显微检查成像

200/小时

400/小时

最小单位一小时,一小时最多四个样品

X-射线光电子能谱仪

9104

杜加磊

18363028728

XPS/

XPS Mapping

200/

300/

样品需要刻蚀、表面清洗或增加采点数目时,每次额外收费50

UPS

350/

450/

深度剖析

75/

100/

爱丁堡稳态光谱仪

逸夫楼B202

张玉海

13518647631

PLPLE

100/小时

150/小时

最小单位一小时,每小时不超三个样品,多于三个,加收50/

Horiba瞬态光谱仪

lifetime

200/小时

300/小时

激光共聚焦显微镜

逸夫楼A112

任娜

82767047

细胞、组织切片,活细胞的结构、分子、离子

100/小时

200/小时

最小单位一小时

金属真空镀膜仪

逸夫楼A110

张丛丛

15168820909

半导体器件的加工与性能测试,金属电极的制备

1.低价金属(Cr   Mo Al 等)

600/次,厚度超过100nm,每百纳米加收200

2.高价金属 (Au   等)

1000/次,厚度超过100nm,每百纳米加400

3.自带坩埚及原料,100/

1.低价金属(Cr   Mo Al 等)

1000/次,镀膜厚度超过100nm,每百纳米加200

2.高价金属(Au   等)

1500/次,厚度超过100nm,每百纳米加400

3.自带坩埚及原料,500/


有机真空镀膜仪

逸夫楼A110

张丛丛

15168820909

半导体器件的加工与性能测试方向,有机半导体薄膜的制备

100/小时

500/小时

最小单位一小时,原料自备

粒度系统

逸夫楼B215

于欣

82767047

纳米粒度,Zete电位

100/样

200/样


接触角测量仪

特教楼B512

余加源

15521271194

材料表面亲疏水,动态接触角测量,静态接触角测量

50/

100/


同步热分析仪

逸夫楼B202

李晓

15626162398

待测样品的质量与温度变化关系

100/样(10 /min升温速率),150/样(5 /min升温速率)

200/样(10 /min升温速率),300/样(5 /min升温速率

升温速度低于5℃/min,费用另计。
 
保温时间费用另计。

X射线粉末衍射仪

逸夫楼B202

余加源

15521271194

物质的晶体结构,织构及应力

普通:30/样, 精确:50/

普通:60/样, 精确:100/


比表面积及孔径分析仪

逸夫楼B205

于欣

82767047

BET比表面积,吸附脱附等温线数据,孔径分布数据等

200/样(比表面积);200/样(介孔);400/样(微孔)

300/样(比表面积);300/样(介孔);600/样(微孔)


倒置荧光显微镜

逸夫楼A112

张玉海

13518647631

微米级发光材料的形貌,光谱,生物细胞、组织数据等

100/小时

200/小时

最小单位一小时,每小时不超三个样品,多于三个,加收50/

 

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